晶圓級測試
VisEra提供晶圓級測試服務，在工程階段的能夠大幅縮短開發週期，並降低成本。采鈺提供全面的晶圓級測試服務包含CP測試, 量子效率測試 (QE) 和晶圓級斜向入射光量測系統，客戶可以在采鈺的製程後(晶圓階段)得到所需數據，而不需等到晶片測試(Final Test, FT) 階段。使得晶圓可以有重製的機會以節省研發成本。| 測試項目 | 感測器/光學指標 |
|---|---|
| 晶圓級CP 測試 （Wafer Level CP） | 均勻度測試 Uniformity 缺陷檢測 Pixel Defect 像素間感測差異測試（Photo-Response Non-Uniform, PRNU） |
| 晶圓級量子效率測試 （Wafer Level Quantum Efficiency, WLQE） |
量子效率測試（Quantum Efficiency, QE） 光子轉移曲線（Photo Transfer Curve, PTC） 晶圓 / 濾光膜缺陷測試（Defect） |
| 晶圓級斜向入射光量測 （Wafer Level Angle Response, WLAR） |
Chief Ray Angle（CRA） 相位對焦測試（Phase Detection Auto Focus, PDAF） 光串擾測試 Cross Talk |
